NOTIZIARIO

[04/10/2008 - 11] Seminario TOTAL REFLECTION- TXRF (Fluorescenza a Raggi X a Riflessione Totale). Una tecnica priva di effetto matrice.

La fluorescenza a dispersione d'energia in riflessione totale (TXRF) è una tecnica analitica priva di effetto matrice per la ricerca di elementi in tracce ( sino a ppb) a partire dall’ Alluminio sino all’Uranio.

Lo sviluppo delle tematiche relative alla Total Reflection verranno trattate in brevi seminari della durata di circa 3 ore.

Dettagli, applicazioni ed esempi pratici saranno presentati da un utilizzatore della tecnica, la cui esperienza decennale garantirà ai partecipanti una risposta semplice ad alcune problematiche difficilmente risolvibili con altre tecniche più conosciute, quali ICP o AA.

Infatti, una delle applicazioni vincenti di questa tecnica è il “problem solving".
Campioni a matrice incognita possono essere analizzati senza conoscerne la provenienza.

La TXRF viene utilizzata anche nell'analisi di routine. Da più di trent’anni, questa tecnica è normata per la ricerca delle impurezze nei semiconduttori e da più di 20 viene utilizzata per risolvere problematiche in vari settori tra i quali:

Petrolchimico - chimico: prodotti petroliferi, intermedi della detergenza e cosmesi, oli, solventi, smalti, vernici.
Alimentare: materie prime, coloranti, conservanti, prodotti finiti.
Ambientale : terreni, acque e particolato aereo.
Medico/Biologico/Farmaceutico: tessuti, dosaggio chemioterapici.
Applicazioni industriali ed elettroniche: Si-wafer: ISO 14706, ISO 17331).
Scienze Forensi: analisi non distruttive e su micro campioni.
Archeologia e storia dell’arte.

Per informazioni scriva a questo indirizzo e-mail: txrf.interesse@strumelab.com e richieda un seminario presso la sua sede.

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